Park NX12仕様
スキャナ
Zスキャナ
フレクチャーガイド式高力スキャナ
スキャン範囲： 15 µm (オプションにて30 µm)
ハイト（高さ）ノイズレベル： 30 pm
0.5 kHz bandwidth, rms (typical)
XY スキャナ
クローズドループ制御付きシングルモジュールのフレクチャー式XYスキャナ
スキャン範囲：100 µm × 100 µm
ステージ
Zステージ駆動距離：25 mm (電動)
フォーカスステージ駆動範囲：15 mm (電動)
XYステージ駆動範囲：10 mm x 10 mm (電動)
サンプル
サンプルサイズ：最大50 mm × 50 mmのオープンスペース、 厚さ最大20 mmまで （SPMモードでは、40 × 40 mm以下のサイズを推奨)
重量：500 g
光学系
10x (0.23 N.A.) ウルトラロングワーキングディスタンスレンズ（分解能：1µm）
サンプル表面とカンチレバーの直上観察対物レンズ
視野：840 µm × 630 µm（10x対物レンズ使用の場合）
CCDピクセル：5 Mピクセル, 1.2 Mピクセル（オプション)
ソフトウェア
SmartScan™
AFMシステム制御、およびデータ取得ソフトウェア
すばやいセットアップと簡単なイメージングのための自動モード
よりエキスパートな用途と詳細なスキャン制御のためのマニュアルモード
XEI
AFMデータ解析ソフトウェア
エレクトロニクス
内蔵機能
デジタルロックインアンプ4チャンネル
バネ定数キャリブレーション (サーマル方式、オプション)
デジタルQコントロール
力測定
フォースディスタンス（F/d）スペクトルスコピー
フォースボリュームイメージング
誘電・圧電特性*
静電気力顕微鏡（EFM）
ダイナミックコンタクトEFM(EFM-DC)
圧電応答力顕微鏡（PFM）
高電圧PFM
機械特性
フォースモジュレーション顕微鏡（FMM)
ナノインデンテーション*
ナノリソグラフィー*
高電圧ナノリソグラフィー*
ナノマニピュレーション*
磁気特性*
磁気力顕微鏡（MFM）
チューナブルMFM
電気特性
コンダクティブAFM（C-AFM）*
IVスペクトルスコピー*
ケルビンプローブフォース顕微鏡（KPFM）
走査型キャパシタンス顕微鏡（SCM）*
走査型拡がり抵抗顕微鏡（SSRM）*
走査型トンネリング顕微鏡（STM）*
フォトカレントマッピング（PCM）*
化学特性*
化学力顕微鏡（機能化チップ付）
EC-AFM
AFMオプション
電気化学用セル
電気化学用セル
ユニバーサル液体セル用電気化学ツールキット
Zスキャナヘッド
15 μm ZスキャナAFMヘッド
30 μm ZスキャナAFMヘッド
15 μm ZスキャナSICMモジュール
30 μm ZスキャナSICMモジュール
電気化学オプション
ポテンショスタット
バイオ・ポテンショスタット
環境制御オプション
グローブボックス
ライブセル・チャンバー
温度制御
温度制御ステージ 1
-25 °C ~ +170 °C
温度制御ステージ 2
常温 ~ +250 °C
温度制御ステージ 3
常温 ~ +600 °C
液体セル
ユニバーサル液体セル
液体/気体灌流によるオープンまたはクローズド液体セル
温度制御範囲：0 °C ~ +110 °C （大気中）、 4 °C ~ +70 °C（液中）
電気化学用セル
オープン液体セル
液中プローブハンド
一般的な液体環境でのイメージングに適した設計
酸を含むほとんどの緩衝液に耐性あり
液体中のコンタクト・ノンコンタクトAFMイメージング
磁界発生装置
サンプル表面に平行な外部磁界を印加
チューナブル磁場
レンジ：-300 ~ 300 gauss
純鉄コアと2つのソレノイドコイルで構成
アコースティック・エンクロージャー
スタンドアロン型 AE 204
上級モード向けスターターキット
高度なモードにも簡単に対応 特殊なプローブやサンプルも同梱
外形寸法図（単位：mm）
