The 24th Le forum des microscopies à sonde locale, the most important Atomic Force Microscopy meeting in France, will take place in the city of Obernai, France from the 3rd to the 7th of April 2023. Park Systems is excited to announce its participation as an exhibitor!
Step by Park’s booth to discuss with us the automation of nanoscale imaging process on the #FX40 Automatic AFM and its advantages for investigating materials at nanoranges! Don’t wait and book a demo slot today: pse@parksystems.com
- • Date: 3 – 7 April
- • Venue: VVF The Plain of Alsace, 2 Berlin Street, 67210 Obernai, France
- • Our location: Park Systems booth
As in previous years, we will be hosting a workshop, this year we are introducing the automation on the Park FX40 AFM.
When: Tuesday 4th of April at 6 pm
_________________________________________________________________________________________________________________________
Workshop Abstract:
Mesures électriques corrélatives sur AFM automatisé
Speaker: Matthew Lefevre, Application Scientist, Park System France
Historiquement, l'AFM et ses modes fonctionnels associés ont la réputation d'être difficiles, chronophages et nécessitant un utilisateur qualifié pour prendre les mesures… l'automatisation et l’intelligence artificielle sont là pour nous aider ! Le nouvel AFM de Park Systems, le FX40, dispose d'un haut niveau de fonctionnalités automatisées intégrées non disponibles sur d'autres AFM de recherche. L'automatisation sur le FX40 réduit le nombre de manipulations manuelles de l'équipement afin de faciliter l'utilisation, de réduire considérablement le temps de configuration et d'éliminer les erreurs de l'utilisateur et les casses matériel. Le FX40 est idéal pour les plates-formes multi-utilisateurs ou le placement de l'AFM dans une boîte à gants. Les principales caractéristiques du FX40 incluent l'échange automatisé de pointes, l'alignement automatique du laser sur la pointe et la photodiode, la reconnaissance optique du motif d'image pour la détection de pointe, la navigation automatisée des échantillons. De plus le nouvel amplificateur de courant interne intégré à l’équipement permet de passer entre différentes techniques de mesures (KPFM/PFM/C-AFM) sans changer les pointes ou le positionnement. La mesure KPFM et C-AFM sur le même emplacement d'échantillon d'un matériau 2D sans changer de pointe sera démontrée, ainsi que toutes les fonctionnalités avancées de l’équipement.
_________________________________________________________________________________________________________________________
About Le Forum des Microscopies à Sondes Locales:
Started in northern France (Sangatte, 1998), the Forum travels around different French locations with a few stops at the Belgian neighbors.
The forum brings together each year about 150 researchers. It has become a landmark French meeting for the community of near-field microscopy.
The spirit of this forum has not changed since 1998; its goal is to bring together French-speaking (mainly France, Belgium, Switzerland) community of scanning probe microscopies (AFM, STM, SNOM and related techniques), from established researchers to students or industry representatives, to discuss the latest developments in the field. These advances concern basic studies in nanoscience as well as application and instrumentation. The relevance of this forum is growing with the years as the atomic force microscopy constitute one of the major tools of nanotechnologies. The technique allows, at the nanoscale, to study the physical and chemical properties (mechanical, electronic, optical, biological ...) of surfaces and nanosystems.